Nanoindentierungsmodul NH-3

Mit dem Fortschritt in Nanotechnologie und der Entwicklung von dünnen Filmen (Solarzellen, CVD, PVD, DLC, MEMS, etc. sind die nanomechanischen Tests zu einem Standard geworden. Sie verbessern die traditionellen Tests dank der Durchführung unter niedriegen Belastungen und oberflächlichen Tiefen mit sehr scharfen Spitzen, höherer räumlichen Auflösung und den in-situ präzisen Belastung – Verschiebung Dateien.

Nanoindentierung heißt einzelne / mehrfache Indents nach ISO 14577 für die Messungen von Härte, Elastizitätsmoduls, Zug- und von Mises Spannungen, Kontaktsteifigkeit, usw. der dünnen Filmen, dicken Beschichtungen und Festkörpern.

Nanoscratch unter konstanten, wachsenden und Benutzer-definierten programmierbaren Belastungen um die Kratzhärte und Kratzhaftfestigkeit der dünnen Filmen, dicken Beschichtungen und Festkörpern einzuschätzen.

Dynamische Indentierung (mit vibrierender Spitze) um die tiefenabhängigen Verlust- und Speichermodule zu vermessen.

Mikromodul MH-2

Mikromechanische Tests werden für die Bestimmung von mechanischer Eigenschaften der Beschichtungen und Werkstoffen benutzt.

Instrumentierte mikromechanische Tests verbessern die traditionellen Methoden durch in-situ Aufnahme der Belastung – Verschiebung Dateien und mittels der hochentwickelten Signalen, wie akustische Emission, ECR, Reibung, etc. für mehr umfassende Charakterisierung.

Instrumentierte Mikroindentierung – nach ISO 14577 auf Makroebene (für Belastungen über 2 N) um die Härte, Elastizitätsmoduls, Zug- und von Mises Spannungen, Kontaktsteifigkeit, usw. von Beschichtungen und Werkstoffen.

Traditionelle Vickers und Knoop Mikrohärte nach ASTM E384-99.

Mikroscratch unter konstanten, wachsenden, Benutzer-definierten programmierbaren Belastungen um die Kratzhärte und Kratzhaftfestigkeit der Beschichtungen einzuschätzen.

Features von NH-3:

• Elektromagnetischer Kraftwandler
• 3-Plattten Kapazitätssensor für die Verschiebungsmessungen mit ultrahöher Genauigkeit
• Berkovich, sphärischer, kubuseckiger, usw. Indenterspitzengeometrien
• Mapping einer unbeschränkten Anzahl von Indents
• Inline Imaging Optionen (AFM empfohlen)
• Hoher Durchsatz und die Wiederholbarkeit
• Optionale fortgeschrittene in-situ Sensoren
• Thermische und akustische Einhausung, Schwingungsisolationstisch
• ASTM-, DIN- und ISO-konform

Features von MH-2:

• Elektromagnetischer Kraftwandler
• 3-Platten Kapazitätssensor für die Verschiebungsmessungen mit ultrahöher Genauigkeit
• Vickers, Rockwell, Knoop, sphärischer, etc. Indenterspitzengeometrien
• Mapping einer unbeschränkten Anzahl von Indents
• Inline Imaging Optionen (3D Profiler empfohlen)
• Hoher Durchsatz und die Wiederholbarkeit
• Optionale erweiterte in-situ Sensoren
• Benutzerdefinierbare Analyse-Algorithmen oder Modelle die Werkstoffseigenschaften zu berechnen
• ASTM-, DIN- und ISO-konform

Nanotribologie Optionen

• Leicht austauschbare lineare und rotierende Antriebe.
• Temperatur, Feuchtigkeit und Gase Optionen.
• Breiter Geschwindigkeitsbereich von ultra-hoch bis ultra-niedrig.
• Ultra-niedrige Belastungen – präzise Servo-Steuerung der Belastungen, Geschwindigkeiten und Positionen für einzigartig reproduzierbare Testdateien.
• Patentierte Sensoren für zeitgleiche Messungen von Kräften in X, Y und Z Richtungen.
• Reibung, Verschleiß, Haftreibung, Haft - Gleit.

Fortgeschrittene in-situ Sensoren

AE – der hoch-frequenz akustische Emission Sensor detektiert eine Risseninitiierung und Verbreitung in den harten und metallischen Beschichtungen.

COF – wenn Beschichtung durchgebrochen wird oder wenn der Indenter tief in die Beschichtung gräbt, ändert sich die Reibung. Reibwert (statisch und dynamisch) ist automatisch kalkuliert.

ECR – elektrischer Kontaktwiderstand ändert sich wenn die leitende Spitze tiefer in die Beschichtung gräbt.

Inline Imaging

Fortgeschrittene in-situ und inline Imaging Optionen. Die Images sind automatisch nach den Tests regeneriert ohne die Probe aus dem Halter herauszunehmen.

AFM-Scanning Bereiche von 50 x 50 x 3 μm bis 180 x 180 x 14 μm

3D Profilometer-Scanning Bereiche von 10 x 10 x 10 μm bis 500 x 500 x 500 μm.

Hoch-Vergrößerung Mikroskop– mit drehbarem Kopf und mehreren Objektiven.

Mittel-Vergrößerung Mikroskop- für in-situ Imaging und präzise Positionierung; beide von Draufsicht und Seitenansicht.

Instrument Highlights

• Modulare Aufbau ermöglicht Mikro- und Nano-Module in weniger als 5 Minuten austauschbar zu sein.
• Kombination vom elektromagnetischen Kraftwandler und 3-Platten Kapazitätssensor um zu Industrie-höchste Stabilität und Genauigkeit zu gewährleisten.
• Mehrere in-situ Sensoren (Akustik, elektrischer Widerstand, Reibung, Temperatur, Feuchtigkeit, Geschwindigkeit, usw.).
• Eigene hochentwickelte Servo-Steuerung der Belastungen, Geschwindigkeiten und Positionen.
• In-line Nano- und Mikro-Imaging ohne die Probe abzuheben.
• schnelle effektive echtzeitige Dateienüberwachung, Aufzeichnung und leistungsfähige Software für die statistische Analyse.
• Optionale Umgebungskammer.
• Automatisierte Bedienung von mehreren kleinen und großen Proben.

Drei Kopf Positionen

Links

Mechanisch (leicht austauschbare mikro und nano Köpfe).

Mittlere

Mikroskop mit drehbarem Kopf (bis 4 leicht austauschbaren Objektiven).

Rechts

Imaging (leicht austauschbare AFM und 3-D Profiler).

Standards

ASTM E2546

Neues standard Verfahren für Nano-Indentierung

ISO 14577

Instrumentierte Indentierung für Härte

ASTM C1624

Standard Methode für Haftfestigkeit und mechanischen Bruch von keramischen Beschichtungen

ISO 20502

Standard Test für fein Keramik Scratching

ASTM D7187

Scratchverhalten von Lackierungen

uvm.