Tribometer

Das universelle Tribometer UMT

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Die universelle Nano+Mikro+Makro Testerplatform ist in drei Hauptkonfigurationen verfügbar:
  • UNMT-1 für umfangreiche nano- und mikromechanische Tests der dünnen Filme und nanostrukturierten Materialien im Belastungsbereich von 10 nN bis 10 N.
  • UMT-2 für umfangreiche mikromechanische Tests der Beschichtungen und Werkstoffe im Belastungsbereich von 1 mN bis 200 N.
  • UMT-3 für makromechanische Tests der Schmierungen, Metalle und keramischen Materialien im Belastungsbereich von 0,1 N bis 1 kN.
Das universelle Tribometer UMT führt zahlreiche ASTM und ISO Standardtests sowie verschiedene kundenspezifische Tests durch, zum Beispiel die Dünn- und Dickschichten, Wälz- und Gleitlager, Zahnräder, Schmieröle und Schmierfette, MST, elektrische Kontakte, Keramik, Papier usw. Es ist in Chemie, Petrochemie, Mikroelektronik, Halbleitertechnik, Automobilindustrie, Luft- und Raumfahrt, Werkzeugmaschinen und vielen weiteren Industriebranchen für jeweils F&E und Qualitätssicherung zu verwenden. Dieses universelle, hochpräzise, vollautomatische Gerät ist für die tribologischen Paarungen wie Pin-on-Disk, Ball-on-Disk, vier Kugeln, Ring-on-Block, Disk-on-Disk usw. und für echte industrielle Bauteile und Komponenten wie Kolbenring-Zylinder, Schraube-in-Gewindemutter, Bolzen-in-Kette, Gleit- und Wälzlager, orthopädische Gelenkstücke, Welle-in-Dichtung, Halbleiter-Wafers, magnetische und optische Medien usw. geeignet. Prüfkörper können beliebige Formen mit Größen von Mikrometer bis 200 mm haben.
Das UMT kann die Kombination von Drehbewegungen und Linearbewegungen inkl. der schnellen Wechselwirkung in alle Richtungen mit Geschwindigkeit von 0,1 mm/s (0,001 rpm) bis 25 m/s (6.000 rpm) unterstützen. Die servogesteuerten Belastungen können zusammen mit den Geschwindigkeiten und Positionen programmiert werden. Die zahlreichen Testparameter, einschließlich Kräfte und Momente, Verschleiß und Deformationen, elektrischer Widerstand und Kapazität, akustische Emission und Temperatur können simultan gemessen und aufgenommen werden. Digital Video Imaging und Rasterkraft-Mikroskopie sind optional. Erhitzung (bis 1.000°C), Feuchtigkeit und Vakuumkammern sind auch optional. US-Patent Nr. 5.795.990 vom 18. August 1998